Otomatik test ekipmanı, baskılı devre kartları, entegre devreler ve diğer elektronik cihazlarda karmaşık testler gerçekleştirir. Test genellikle otomatik, nispeten yüksek hızlı testin önemli olduğu bir üretim ortamında yapılır. Otomatik test ekipmanı, fonksiyonel devre testi, optik muayene ve X-ışını muayenesi gibi çeşitli teknikler kullanabilir. Yarı iletken üreticileri tarafından mikroişlemcileri, bellek yongalarını ve analog entegre devreleri test etmek için sıklıkla kullanılır. Otomatik test ekipmanları, elektronik üreticileri tarafından devre kartlarının, aviyonik sistemlerin ve elektronik bileşenlerin doğru çalıştığını doğrulamak için de kullanılır.
Otomatik test ekipmanı cihazı, test edilen parça üzerinde sadece birkaç voltaj ve akım ölçümü gerçekleştirerek oldukça basit olabilir. Diğer sistemler çok karmaşıktır, çeşitli test cihazlarıyla düzinelerce fonksiyonel ve parametrik test gerçekleştirir. Bazıları test edilen parçanın fiziksel ortamını da değiştirebilir. Örneğin, bir cihaz, bilgisayar kontrolü altında aşırı sıcak veya soğuğa maruz kalan bir bölme içinde test edilebilir. Cihazın doğasına bağlı olarak, test ayrıca bir dizi ışığa, sese veya basınca maruz kalmayı da içerebilir.
