Devre içi testi
Baskılı devre kartı testi için en güçlü ve kapsamlı araçlardan biri, Devre içi Testi (BİT) olarak adlandırılır. BİT test ekipmanı, bir pano düzeneğindeki devre notalarına erişmek ve bileşenleri yalıtılmış bir temelde ölçmek için bir çivi yatağı (test probları) kullanır. Yani, elektriksel olarak kendisine bağlı diğer bileşenlerden bağımsız olarak, bir anda bir bileşendir. Direnç, kapasitans, endüktans, analog bileşenlerin çalışması ve ayrıca dijital devrelerin bazı fonksiyonları da ölçülebilir. Dijital devrelerin karmaşıklığı testin tamamını pahalı bir şekilde yapabilir, ancak aksi takdirde BİT yazdırılan devre kartlarının doğru üretildiğini doğrulamak için anahtar bir araç olabilir ve bu nedenle belirtildiği gibi yüksek bir performans gösterme olasılığına sahip olacaktır.
genel bakış
BİT ekipmanı, her bir bileşenin doğru yerde ve doğru değerde olduğunu doğrulamak için tek tek ölçer. Montaj hatalarının çoğu kısa, açık veya yanlış parçalardan oluşan imalat işlemlerinden kaynaklandığı için, BİT bu tür hataların çoğunu olmasa da en çok yakalayabilir. IC'ler başarısız olduğunda, ana sebeplerden biri statik hasardır. Bu arızalar BİT tarafından da tespit edilebilir. Bazı test uzmanları daha yüksek bir güven sağlamak için IC'lerin işlevselliğini test edebilir.
BİT devre düzeneğini işlevsel olarak test etmez, bu nedenle düzeneğin çalışmasını garanti etmez. Tasarım doğrulandıktan sonra, montajın doğru yapıldığından emin olmak için kullanılabilir.
BİT ekipmanı
Ölçümleri ayarlamak ve gerçekleştirmek için kullanılan sürücü ve sensör matrisinin test sistemi. Bu, çeşitli tahta tasarımları için kullanılabilir.
Fikstür-ICT sistem konektörü bir fikstür ile arayüz oluşturur. Fikstür, BİT ile test edilecek bireysel ünite arasında özel olarak tasarlanmış bir arayüzdür. Sürücü sensör noktalarının bağlantılarını alır ve yaylı test pimleri veya bir "çiviler yatağı" üzerinden test altındaki belirli noktalara yönlendirir. Bu, test edilen her montaj için benzersiz bir ünitedir.
Yazılım - test edilecek her pano tipi için yazılmıştır. Test sistemini kontrol eder, test edilecek noktaları, başarılı / başarısız kriterleri için değer aralıklarını tanımlar. Yazılım ayrıca test edilecek her montaj tasarımı için benzersizdir.
BİT sistemlerinin satın alınması nispeten pahalıdır ve kullanım maliyeti yüksektir (özel donanım ve programlama nedeniyle). Genelde yüksek hacimli ve yüksek değerli montajlarda kullanılır.
Test kapsamı
Pratik olarak,% 100 test kapsamı aşağıdakilerden dolayı mümkün değildir:
Montajdaki tüm devre düğümlerine fiziksel erişim.
Düşük kapasitörlü veya kapasitör olarak test kapasitansı veya test sisteminin endüktansı olarak yapılan testler, doğru testleri maskeleyebilir.
Sistemin kapasitesine karşılık toplam düğüm sayısı için sistem sınırlamaları. Bununla birlikte, kapasite söz konusu olduğunda bir miktar güven kazanmak için “zımni test” kullanılabilir. Bu teknik, birden fazla bileşen içeren devrenin büyük bölümlerinin tek bir varlık olarak test edildiği yerdir.
IC Test Cihazları Türleri
Birkaç farklı tipte test cihazı yaygın olarak bulunur. Seçim, üretim / test sürecine, üretim hacmine ve ürün tasarımına bağlıdır
Standart - temel direnç, süreklilik, kapasitans ve bazı cihaz fonksiyonelliğine sahip makineler.
Uçan prob-üniteyi test altında tutan, düzenek etrafında hareket edebilen ve gerektiği şekilde temas edebilen birkaç prob aracılığıyla temas halinde tutulan basit fikstür. Hareketler yazılım kontrolü altındadır, böylece herhangi bir tahta güncellemesi fiziksel bir “tırnak yatağı” test fikstüründen ziyade yazılımda yapılabilir.
Üretim Hatası Analizörü (MDA) - Bu, direnç, süreklilik ve yalıtımın temel Devre testini sunar. Ancak, raylar arasındaki kısa devreler ve açık devre bağlantıları gibi üretim hatalarının tespiti ile sınırlıdır.
BİT birçok avantaja sahip olsa ve ideal bir baskılı devre kartı testi şekli olsa da, elektronik bileşenlerin boyutları düşmeye devam ettikçe ve yoğunluklar arttıkça, tüm düğümlere erişimdeki zorluklar gittikçe zorlaşmakta, bu nedenle diğer test tekniklerinin dikkate alınması gerekli olabilmektedir.
